型 號： ZSX Primus II

　　生產廠家： 日本理學公司

　　儀器簡介： X射線熒光光譜儀是由主機單元、X射線發生器系統、真空系統、計算機控制等系統組成的正規精密分析儀器，主要用于對各種材料進行快速的定性、定量分析。

　　儀器主要特點：

　　l 大幅度提高了超輕元素(B,C)的分析靈敏度、準確度

　　l 采用新光學系統，實現對重元素的高靈敏度分析

　　l 加強了粉末樣品測試功能

　　l 加裝CCD視頻攝像機構，位置分辨率可達100um，可以進行0.5mm的微區分析，可以測量Mapping(專利技術) 可對微小樣品(φ0.5 mm—小米粒大小)進行定性定量分析。

　　l 提高微量樣品的分析準確度

　　l 樣品室與分光室之間有專用隔膜裝置

　　l 48位自動進樣器

　　l 自動監控、自動開關機、自動節能等多功能操作軟件

　　l 配備了齊全適用的實時控制分析軟件和可靠實用的數據分析NEW SQX軟件

　　主要技術性能：

　　l ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高、高穩定性

　　l 可以對4Be到92U進行快速定性、定量分析

　　l 元素的檢量范圍從0.0001% ～100%，如進行前處理，可以再下降2 ～3個數量級

　　l　分析方式靈活、多樣，快捷有效配備多種適應不同分析要求的分析軟件

　　儀器主要功能及其用途：

　　l 鋼鐵、有色冶金、礦石、土壤、水泥、陶瓷、玻璃、晶體、化學試劑、化工產品等材質中的各種成分的快速定性和定量分析、元素分布、面掃描等分析

　　l 糧食、飼料、塑料、藥材、血液、毛發、油脂、植物根莖葉花等有機物質中微量元素的快速定性和定量分析

　　l 可以分析材料的狀態包括：固體樣品、粉末樣品、半導體薄膜樣品(單層薄膜、多層薄膜、復合薄膜)、液體樣品、不規則小面積樣品、微量粉末樣品等

　　l 可以分析材料的領域包括：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、食品工業非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護

　　l 用于原子的基本性質如氧化數、離子電荷、電負性和化學鍵等的研究